技术常见问答

询问问题

框架断路器MT/MVS控制单元上的"test"测试孔能否读取断路器的故障脱扣信息?

不可以, 因为控制单元上的测试孔是用来连接小型或便携式装置用以检查控制单元是否能正常运行,当该断路器保护的回路出现故障导致脱扣时,无法通过该测试孔获取保护回路的故障脱扣信息。

如客户需读取历史故障脱扣信息,有以下方法可以尝试:

a)通过本地读取历史故障信息 。对于MT/MVS而言,MT/MVS带2.0/5.0/6.0基本型和带A型的控制单元的无法读取历史故障信息;MT带E型/MVS带V型的控制单元可以记录最近10次脱扣,仅显示脱扣原因,脱扣时间和日期均不显示;MT带D、P、H型/MTE带D型的控制单元可以记录最近10次脱扣和报警,可显示脱扣原因、脱扣阈值、时间和日期。

b) 通过通讯选件读取历史故障信息。MT/MVS中仅MT带E/D/P/H型控制单元可通过通讯选件读取历史故障信息,其中MT带E型控制单元可通过通讯选件读取以记录最近10次脱扣,可显示脱扣原因,脱扣日期和时间;MT带D、P、H型控制单元可通过通讯选件读取最近10次脱扣和报警,可显示脱扣原因、脱扣阈值、时间和日期。


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